[发明专利]一种中子管反应堆次临界度测量系统及方法有效
申请号: | 201910205694.5 | 申请日: | 2019-03-18 |
公开(公告)号: | CN109935375B | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 章秩烽;张巍;朱庆福;罗皇达 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G21C17/104 | 分类号: | G21C17/104;G21C17/108 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102413 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于反应堆次临界度测量技术领域,具体涉及一种中子管反应堆次临界度测量系统及方法。系统包括产生中子的中子管,用于控制中子管的中子管控制箱,用于向中子管控制箱发送控制中子管的设置参数的第二工控机;对称设置在反应堆上的第一中子探测器和第二中子探测器,用于采集第一中子探测器所发出的第二分析信号和第二中子探测器所发出的第三分析信号的采集卡,用于对分析信号进行频谱分析的第一工控机;采集卡还与中子管控制箱相连,用于向中子管输出调制信号,同时将调制信号作为第一分析信号反馈给第一工控机参与频谱分析;调制信号用于控制中子管随机产生中子。该系统实现了利用中子管来替代锎源电离室驱动反应堆进行噪声法测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 中子 反应堆 临界 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种中子管反应堆次临界度测量系统,其特征是:包括产生中子的中子管(10),用于控制所述中子管(10)的中子管控制箱(9),用于向所述中子管控制箱(9)发送控制所述中子管(10)的设置参数的第二工控机(8);还包括对称设置在反应堆(1)上的第一中子探测器(2)和第二中子探测器(3),用于采集所述第一中子探测器(2)所发出的第二分析信号和所述第二中子探测器(3)所发出的第三分析信号的采集卡(6),与所述采集卡(6)相连、用于对所述分析信号进行频谱分析的第一工控机(7);所述采集卡(6)还与所述中子管控制箱(9)相连,用于向所述中子管(10)输出调制信号,同时将所述调制信号作为第一分析信号反馈给所述第一工控机(7)参与频谱分析;所述调制信号用于控制所述中子管(10)随机产生中子。
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