[发明专利]岩样微观孔隙结构定量检测方法及装置在审
| 申请号： | 201910206682.4 | 申请日： | 2019-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111721683A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 刘华勋;高树生;熊伟;叶礼友;安为国;朱文卿;薛蕙 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01N24/08 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王涛;任默闻 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种岩样微观孔隙结构定量检测方法及装置，该方法包括：获取检测到的储层的标准岩样的核磁共振T2谱曲线和压汞曲线；根据所述标准岩样的核磁共振T2谱曲线和压汞曲线确定所述储层的核磁共振T2谱曲线与压汞曲线的对应关系；获取检测到的所述储层的待测岩样的核磁共振T2谱曲线；根据所述待测岩样的核磁共振T2谱曲线以及所述对应关系确定出所述待测岩样的压汞曲线，以根据该压汞曲线定量确定所述待测岩样的微观孔隙结构。本发明解决了现有的微观孔隙结构测试方法无法实现对复杂岩样的微观孔隙结构进行定量的检测的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 微观 孔隙 结构 定量 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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