[发明专利]一种真空低温环境下应用的红外辐射计及测量方法有效
| 申请号： | 201910211694.6 | 申请日： | 2019-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN111721417B | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 张玉国;孙红胜;张鑫;吴柯萱;孙广尉 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种真空低温环境下应用的红外辐射计，包括外标定源、光学系统、内标定源和调制扇、红外探测器组件、前置宽带放大器、锁相放大器、数据采集处理及控制器。所述内标定源、外外标定源用于红外辐射计的定标；所述光学系统用于收集目标光线；所述调制扇放置在光学系统与红外探测器组件之间，对被测光辐射进行调制，作为锁相放大器的同步输入；所述前置放大器将红外探测器组件的输出信号进行放大，输出给锁相放大器，锁相放大器处理后，形成与被测目标红外辐射量值成正比的信号，由AD采集，经由计算机及软件处理，形成测量结果。本发明可实现在轨定标用校准源的在轨多点、高精度、宽温度范围、快速量值溯源或辐射量值测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 真空 低温 环境 应用 红外 辐射计 测量方法 | ||
【主权项】：
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