[发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201910219078.5 | 申请日： | 2019-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN109856877B | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 何伟 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1362 | 分类号： | G02F1/1362;G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂;张洋 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种缺陷检测装置及缺陷检测方法。该缺陷检测装置包括检测机台、与所述检测机台连接并位于所述检测机台下方的背部照相单元、与所述检测机台连接的阵列测试单元以及与所述检测机台和阵列测试单元均连接的处理单元；所述背部照相单元用于获取显示面板背部的图像；所述检测机台用于根据显示面板背部的图像获取显示面板的线缺陷的参考位置；所述阵列测试单元用于获取显示面板的显示异常子像素的位置；所述处理单元用于将线缺陷的参考位置和显示异常子像素的位置进行对比以确定线缺陷的实际位置，提高线缺陷定位的准确性，从而提高线缺陷的修补成功率，进而提高产品良率。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：检测机台(10)、与所述检测机台(10)连接并位于所述检测机台(10)下方的背部照相单元(20)、与所述检测机台(10)连接的阵列测试单元(30)以及与所述检测机台(10)和阵列测试单元(30)均连接的处理单元(40)；所述背部照相单元(20)用于获取显示面板(50)背部的图像；所述检测机台(10)用于根据显示面板(50)背部的图像获取显示面板(50)的线缺陷的参考位置；所述阵列测试单元(30)用于获取显示面板(50)的显示异常子像素的位置；所述处理单元(40)用于将线缺陷的参考位置和显示异常子像素的位置进行对比以确定线缺陷的实际位置。
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