[发明专利]圆晶级大面积半导体纳米片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910219690.2 申请日: 2019-03-21
公开(公告)号: CN109962010B 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 潘东;赵建华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;C30B29/52
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种圆晶级大面积半导体纳米片及其制备方法。该制备方法通过调节合金催化剂的组分、利用合金催化剂的偏析来实现半导体材料从一维纳米线到二维纳米片的转变,整个过程无需借助光刻及电子束曝光等微纳加工设备,工艺简单,易于实现二维半导体纳米片材料的大规模生产。此外,本公开制备的二维半导体纳米片密度可控,在衬底上可以得到超高密度的二维高质量纳米片,可以大大节约片状半导体纳米材料的生产成本。
搜索关键词: 圆晶级 大面积 半导体 纳米 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种圆晶级大面积半导体纳米片的制备方法,其特征在于,包括:在衬底上采用合金催化剂生长一维半导体纳米线;通过调节一维半导体纳米线顶端的合金催化剂组分实现合金催化剂的偏析,该偏析改变一维半导体纳米线晶面的生长速率,基于该偏析实现一维半导体纳米线向二维半导体纳米片的转变;从合金催化剂偏析出来的金属颗粒迁移至衬底,在衬底上持续催化形成新的一维半导体纳米线;以及位于一维半导体纳米线和二维半导体纳米片顶端的所有合金催化剂持续发生偏析,所有偏析出来的金属颗粒在衬底上持续催化产生新的一维半导体纳米线,循环往复,最终形成超高密度的半导体纳米片。
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