[发明专利]一种分析仪器的阵列式磁芯排布结构在审
| 申请号： | 201910220020.2 | 申请日： | 2019-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN111721657A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 孙立鑫 | 申请（专利权）人： | 北京恒久实验设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N5/00 | 分类号： | G01N5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 101500 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种分析仪器的阵列式磁芯排布结构，包括阵列式排布的磁芯单元、漆包线圈单元和天平横梁单元。所述阵列式排布的磁芯单元主要由强磁铁组成；漆包线圈单元主要由多组结构相同的线圈组成；天平横梁单元主要由整套天平分析仪器的天平横梁杆和光学元件组成。阵列式磁芯排布结构可确保分析仪器在加大样品量后加热炉体内部温度的均匀性不变；避免热对流扰动造成实验结果的重复性差；可加大分析仪器的热重测量范围，确保热重测量结果的线性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分析仪器 阵列 式磁芯 排布 结构 | ||
【主权项】：
暂无信息
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