[发明专利]采用颗粒微小位移测量装置测量细微颗粒产生位移的方法有效
| 申请号： | 201910221558.5 | 申请日： | 2019-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN109974591B | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 李然;汪琦;杨晖 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人： | 刘宗磊 |
| 地址： | 200000 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种采用颗粒微小位移测量装置测量细微颗粒产生位移的方法，激光器发射出的激光通过中间有小孔的第一反射镜，再透过斜槽表面聚焦在颗粒物质上，被激光束照射的样品颗粒产生的散射光入射分束器后，一分为二产生两束激光，一束光被光学分束器反射后入射到上方的第二反射镜后反射回分束器，之后透射过分束器由透镜聚焦被CCD相机接收；另一束光透射过分束器后入射到右侧的第三反射镜，之后反射回分束器后再次被反射，经过透镜聚焦到CCD相机上。CCD相机通过图像卡记录产生的激光散斑图，并传送到计算机进行相关数值计算处理。本发明解决了原有测量装置和方法无法测量颗粒位移的问题；可测量直径在1mm‑1.5mm之间的细微颗粒运动产生的位移。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 颗粒 微小 位移 测量 装置 细微 产生 方法 | ||
【主权项】：
1.一种颗粒微小位移测量装置，其特征在于，包括：激光器(1)；第一反射镜(2)，第一反射镜(2)中间有孔；斜槽(3)，装有样品颗粒，激光器(1)发射出的激光通过中间有孔的第一反射镜(2)，再透过斜槽(3)表面聚焦在样品颗粒物质上；分束器(4)，被激光束照射的样品颗粒产生的散射光入射分束器(4)后，一分为二产生两束激光；第二反射镜(5)和第三反射镜(6)，第二反射镜(5)和第三反射镜(6)分别用于将两束激光反射回分束器(4)；透镜(7)和CCD相机(8)，经第二反射镜(5)反射回的第一条光路透过分束器(4)经透镜(7)聚焦被CCD相机(8)接收，经第三反射镜(6)反射回的第二条光路激光经过分束器(4)再次反射后经过透镜(7)聚焦被CCD相机接收(8)；其中，经过透镜(7)的两条光路之间有夹角。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学，未经上海理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910221558.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
