[发明专利]一种基于激光反射的近场探针测距方法及装置在审
申请号: | 201910224214.X | 申请日: | 2019-03-22 |
公开(公告)号: | CN109917407A | 公开(公告)日: | 2019-06-21 |
发明(设计)人: | 王化斌;郭缘森;李早霞;耿国帅;杨忠波 | 申请(专利权)人: | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 赵荣之 |
地址: | 400714 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于激光反射的近场探针测距方法及装置,属于太赫兹显微成像领域。该方法基于近场探针测距装置实现,该测距装置包括激光器,可见光源,可见光显微镜,光电导微探针,样品,样品位移台,电机控制盒以及计算机。所述方法具体包括:S1:将样品放置在样品位移台上;S2:可见光照射在光电导微探针针尖上,通过可见光显微镜结合CCD探测器实时获取针尖附近的场景,并传输到计算机进行图像处理及特征提取,得到光电导微探针‑样品在图像尺度上的间距S;S3:通过图像尺度上的间距S与实际间距的关系式,计算得到光电导微探针‑样品的实际距离d。本发明用于准确测量光电导微探针与样品间距和自动调节其间距。 | ||
搜索关键词: | 光电导 微探针 近场 探针 测距 可见光显微镜 测距装置 激光反射 图像尺度 针尖 电机控制盒 可见光照射 样品位移台 可见光源 实际距离 实时获取 特征提取 图像处理 显微成像 样品放置 准确测量 激光器 计算机 场景 传输 | ||
【主权项】:
1.一种基于激光反射的近场探针测距方法,其特征在于,该测距方法具体包括以下步骤:S1:将样品放置在样品位移台(8)上;S2:打开可见光源(4),发出可见光照射在光电导微探针(5)针尖上,通过可见光显微镜(3)结合CCD探测器(2)实时获取针尖附近的场景,并传输到计算机(1)进行图像处理及特征提取,得到光电导微探针‑样品在图像尺度上的间距S;S3:通过图像尺度上的间距S与实际间距的关系式,计算得到光电导微探针‑样品的实际距离d。
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