[发明专利]一种用于SMD晶片超微暗裂纹检测用光源装置有效
| 申请号： | 201910225422.1 | 申请日： | 2019-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN109991240B | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 张国安;徐伟钢 | 申请（专利权）人： | 铜陵市多元微分科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司： | 铜陵市天成专利事务所(普通合伙) 34105 | 代理人： | 范智强 |
| 地址： | 244000 安徽省铜陵市高*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于SMD晶片超微暗裂纹检测用光源装置，包括聚光筒，所述聚光筒上侧通过聚光筒压盖和上光源相连，所述聚光筒下侧通过下旋板和下光源相连；所述上光源为垂直光源，所述下光源为倾斜光源，其倾斜角度为61～64°；所述上光源由96颗LED电珠分两排均匀错落分布，光源内直径为60～62毫米，所述下光源由145颗LED电珠分三排均匀错落分布，光源内直径为64～65毫米。本发明的下光源依靠聚光筒下旋板进行调节，调节方便、简单，有效提高SMD晶片0.009mm以下暗裂纹的检测效率及检测准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 smd 晶片 超微暗 裂纹 检测 用光 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于SMD晶片超微暗裂纹检测用光源装置，其特征是包括聚光筒（1），所述聚光筒（1）上侧通过聚光筒压盖（2）和上光源（4）相连，所述聚光筒（1）下侧通过下旋板（3）和下光源（5）相连；所述上光源（4）为垂直光源，所述下光源（5）为倾斜光源，其倾斜角度为61～64°；所述上光源（4）由96颗LED电珠分两排均匀错落分布，光源内直径为60～62毫米，所述下光源（5）由145颗LED电阻分三排均匀错落分布，光源内直径为64～65毫米。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于铜陵市多元微分科技有限公司，未经铜陵市多元微分科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910225422.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
