[发明专利]芯片功能自动化测试方法、装置和计算机设备在审
申请号: | 201910233133.6 | 申请日: | 2019-03-26 |
公开(公告)号: | CN109979520A | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 刘坚;冯元元;臧鑫 | 申请(专利权)人: | 深圳忆联信息系统有限公司 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 冯筠 |
地址: | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请涉及一种芯片功能自动化测试方法、装置、计算机设备和存储介质,其中该方法包括:获取芯片功能自动化测试请求;根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动;在所述芯片boot时,通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序;运行所述测试程序对芯片进行测试,得到对应的测试结果;通过脚本保存测试结果,并对测试结果进行自动分析生成测试报告。本发明通过自动化的方式来实现测试程序的测试和测试报告的分析,使整个芯片的测试过程都不要人工的参与,从而实现全自动化的芯片功能测试,提高效率,节约人力资源。 | ||
搜索关键词: | 芯片功能 自动化测试 芯片 计算机设备 测试程序 测试 测试报告 测试过程 存储介质 加载测试 脚本保存 全自动化 人力资源 生成测试 自动分析 人工的 上电 自动化 节约 申请 分析 | ||
【主权项】:
1.一种芯片功能自动化测试方法,所述方法包括:获取芯片功能自动化测试请求;根据所述芯片功能自动化测试请求对所述芯片上电并设置成boot启动;在所述芯片boot时,通过使用Uart/PCIE的方式加载测试程序;运行所述测试程序对芯片进行测试,得到对应的测试结果;通过脚本保存测试结果,并对测试结果进行自动分析生成测试报告。
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