[发明专利]一种用于短段光纤参数测试的自动测试平台有效

专利信息
申请号: 201910233659.4 申请日: 2019-03-26
公开(公告)号: CN109883651B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 豆帅;舒健;乐正;周波;程治民;蒋晓亮;梅俊;胡琛;林珑;欧阳琛 申请(专利权)人: 长飞光纤光缆股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 胡建平;乐综胜
地址: 430073 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种用于短段光纤参数测试的自动测试平台,包括自动流转装置、机械手、测试设备和测试辅助装置,机械手设置于自动流转装置和测试设备的一侧,自动流转装置上分布有多个光纤放置位,光纤放置位用于放置待测光纤样品并定位,测试辅助装置设置于测试设备的下方;机械手将待测光纤样品的端头送入测试设备的过程中,光纤在重力作用下落入至测试辅助装置中,测试完成后再由机械手将光纤样品送回至自动流转装置上的光纤放置位,测试辅助装置包括至少一个自动打圈装置。实现非整盘光纤的自动运输、夹持、定位、打圈弯曲和测试,提高自动化程度和生产效率。
搜索关键词: 一种 用于 光纤 参数 测试 自动 平台
【主权项】:
1.一种用于短段光纤参数测试的自动测试平台,其特征在于,包括自动流转装置、机械手、测试设备和测试辅助装置,机械手设置于自动流转装置和测试设备的一侧,自动流转装置上分布有多个光纤放置位,光纤放置位用于放置待测光纤样品及定位,测试辅助装置设置于测试设备的下方,测试辅助装置包括至少一个自动打圈装置;机械手将待测光纤样品的端头送入测试设备的过程中,光纤的中间段部分在重力作用下落入至相应的自动打圈装置中,在测试的同时自动打圈装置对光纤进行打圈,测试完成后再由机械手将光纤样品送回至自动流转装置上的光纤放置位。
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