[发明专利]一种薄片材料复磁导率测量方法和装置在审
| 申请号： | 201910236333.7 | 申请日： | 2019-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN109884565A | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 王群;廖丽;唐章宏;王佩佩;李永卿 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王庆龙;周永君 |
| 地址： | 100022 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种薄片材料复磁导率测量方法和装置，该方法包括：将微带线的接地板和导带间的介质层内依次设有第一空气区域、待测样品放置区和第二空气区域，在所述待测样品放置区填充待测薄膜材料；基于传输反射法获取微带线二端口的特征阻抗和传播常数，并基于材料电磁参数与所述特征阻抗和传播常数的关系获取微带线二端口相对介电常数，基于所述相对介电常数获取所述待测薄膜材料的复磁导率。基于宽频测试过程中测量加入样品后的S参数，利用传输反射法求出填充待测薄膜材料后微带线的特征阻抗，根据电磁参数与特征阻抗关系求解出微带线二端口相对介电常数，再求解出测试频段范围下的复磁导率，具有测试频带宽，重复性强、结构简单等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 微带线 特征阻抗 相对介电常数 薄膜材料 二端口 磁导率测量 方法和装置 薄片材料 传播常数 待测样品 电磁参数 空气区域 磁导率 反射法 放置区 求解 填充 测试过程 测试频带 测试频段 关系获取 传输 接地板 介质层 导带 宽频 测量 | ||
【主权项】：
1.一种薄片材料复磁导率测量方法，其特征在于，包括：将微带线的介质层分为第一空气区域、待测样品放置区域和第二空气区域，将待测薄膜材料样品置于所述待测样品放置区，使微带线两端构成一个二端口网络；基于传输反射法获取微带线的二端口网络的特征阻抗和传播常数，并基于材料电磁参数、所述特征阻抗和所述传播常数的关系获二端口网络的总相对介电常数，并基于所述总相对介电常数以及微带线中第一空气区域、第二空气区域和待测样品放置区的电容关系获取待测薄膜材料样品的复介电常数，基于所述复介电常数获取所述待测薄膜材料样品的复磁导率。
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