[发明专利]一种用于芯片的可靠性高的检测设备在审

专利信息
申请号: 201910237631.8 申请日: 2019-03-27
公开(公告)号: CN109884509A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 岳超然 申请(专利权)人: 深圳市安思科电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/073
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种用于芯片的可靠性高的检测设备,包括主体和工作台,还包括检测机构和定位机构,所述检测机构包括套管、升降杆、压板、检测组件和两个升降组件,所述检测组件包括移动板、两个限位组件和若干个探针,所述定位机构包括固定盒和两个移动盒,所述移动盒内设有移动组件,所述固定盒内设有固定组件,所述固定组件包括第一电机、绕线盘和两个固定单元,该用于芯片的可靠性高的检测设备通过检测机构,通过挤压芯片与探针接触充分,避免芯片受力不均匀,导致芯片上部分焊接点无法与探针接触,影响检测效果,通过定位机构,无需人为将芯片放置在探针处,避免定位不准确,影响检测效果。
搜索关键词: 芯片 定位机构 检测设备 影响检测效果 固定组件 检测组件 探针接触 固定盒 移动盒 探针 固定单元 升降组件 限位组件 芯片放置 移动组件 不均匀 焊接点 绕线盘 升降杆 移动板 工作台 套管 受力 压板 挤压 电机
【主权项】:
1.一种用于芯片的可靠性高的检测设备,包括主体(1)和工作台(2),所述工作台(2)固定在主体(1)内的底部,所述主体(1)内设有PLC,其特征在于,还包括检测机构和定位机构;所述检测机构包括套管(3)、升降杆(7)、压板(8)、检测组件和两个升降组件,所述套管(3)固定在主体(1)内的顶部,所述套管(3)的下方设有通孔,所述升降杆(7)的一端与压板(8)固定连接,所述升降杆(7)的另一端穿过通孔设置在套管(3)的内部,所述升降杆(7)与通孔同轴设置,两个升降组件分别设置在套管(3)内的两侧,所述升降组件与升降杆(7)传动连接,所述工作台(2)上设有凹槽,所述检测组件设置在凹槽的内部;所述检测组件包括移动板(11)、两个限位组件和若干个探针(12),所述移动板(11)水平设置在凹槽的内部,所述移动板(11)的两侧分别与两个限位组件连接,所述探针(12)均匀分布在移动板(11)的上方;所述定位机构包括固定盒(16)和两个移动盒(17),所述主体(1)的一侧设有进料口,两个移动盒(17)分别设置在工作台(2)的两侧,所述移动盒(17)的一端与主体(1)的远离进料口的一侧的内壁固定连接,所述移动盒(17)的另一端穿过进料口设置在主体(1)的外部,所述固定盒(16)设置在两个移动盒(17)之间,所述移动盒(17)内设有移动组件,所述移动组件与固定盒(16)传动连接;所述固定盒(16)内设有固定组件,所述固定盒(16)的靠近工作台(2)的一侧设有第一开口,所述固定组件包括第一电机(18)、绕线盘(19)和两个固定单元,所述第一电机(18)固定在固定盒(16)内的底部,所述第一电机(18)与绕线盘(19)传动连接,两个固定单元分别设置在第一电机(18)的两侧,所述固定单元包括拉线(20)、固定板(21)和第一弹簧(22),所述拉线(20)的一端缠绕在绕线盘(19)上,所述拉线(20)的另一端与固定板(21)固定连接,所述第一弹簧(22)的两端分别与固定盒(16)的一侧的内壁和固定板(21)连接,所述第一弹簧(22)处于拉伸状态,所述第一电机(18)与PLC电连接。
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