[发明专利]半导体器件在审

专利信息
申请号: 201910238881.3 申请日: 2019-03-27
公开(公告)号: CN110718548A 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 崔戍侦;卢东贤;金成洙;安圭焕;玄尚镇 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L29/78;H01L21/8238
代理公司: 11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 赵南;张帆
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种半导体器件,其可以包括:有源鳍,所述有源鳍通过有源鳍之间的凹部彼此间隔开,所述有源鳍中的每一个从衬底的上表面突出;隔离结构,其包括在凹部的下部的下表面上和侧壁上的衬垫,以及在所述衬垫上的阻挡图案,所述阻挡图案填充所述凹部的下部的剩余部分并且包括氮化物、碳化物或多晶硅;栅电极结构,其在有源鳍和隔离结构上;以及源极/漏极层,其在所述有源鳍中的每一个有源鳍的与所述栅电极结构相邻的部分上。
搜索关键词: 凹部 栅电极结构 隔离结构 阻挡图案 半导体器件 源极/漏极 氮化物 多晶硅 上表面 碳化物 下表面 侧壁 衬底 填充
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:/n有源鳍,所述有源鳍通过所述有源鳍之间的凹部彼此间隔开,所述有源鳍中的每一个从衬底的上表面突出;/n隔离结构,其形成在所述凹部内,包括:/n衬垫,其在所述凹部的下部的下表面和侧壁上;以及/n阻挡图案,其在所述衬垫上,所述阻挡图案填充所述凹部的所述下部的剩余部分并且包括氮化物、碳化物或多晶硅;/n栅电极结构,其位于所述有源鳍和所述隔离结构上;以及/n源极/漏极层,其位于所述有源鳍中的每一个有源鳍的与所述栅电极结构相邻的部分上。/n
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