[发明专利]基于X射线图像的目标检测方法及计算机设备有效

专利信息
申请号: 201910239361.4 申请日: 2019-03-27
公开(公告)号: CN109978863B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 俞宏达;胡飞;王方 申请(专利权)人: 北京青燕祥云科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 曹桓
地址: 100000 北京市石景山区石*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于X射线图像的目标检测方法及计算机设备,该方法包括:通过训练好的X射线图像的目标检测模型对X射线图像进行目标检测,目标检测包括:将X射线图像通过第一网络模型进行特征提取操作得到M个特征图;将第M个特征图进行第一运算操作得到预处理特征图,将第M个预处理特征图作为第M阶段的融合特征图;从第M阶段开始依次将当前阶段的融合特征图与前一阶段的预处理特征图进行叠加得到前一阶段的融合特征图;分别将各阶段的融合特征图通过第二网络模型进行预测操作得到融合特征图中每一像素点的类别及位置区域;将包含有检测目标的位置区域作为目标区域。本发明的技术方案可以自动检测和定位检测目标,准确率高,检测速度快。
搜索关键词: 基于 射线 图像 目标 检测 方法 计算机 设备
【主权项】:
1.一种基于X射线图像的目标检测方法,其特征在于,包括:通过训练好的X射线图像的目标检测模型对所述X射线图像进行目标检测,其中,利用所述X射线图像的目标检测模型的目标检测包括:将X射线图像通过第一网络模型进行特征提取操作后得到M个特征图,其中,M为大于或等于二的整数,第一个特征图至第M个特征图的信息量依次增大;将第M个特征图进行第一运算操作后得到对应的预处理特征图,将第M个预处理特征图作为第M阶段的融合特征图;从第M阶段开始,依次将当前阶段的融合特征图与前一阶段的预处理特征图进行叠加得到该前一阶段的融合特征图;分别将各阶段的融合特征图通过第二网络模型进行预测操作后得到所述融合特征图中每一像素点的类别及位置区域,其中,所述类别包括检测目标及非检测目标;将包含有检测目标的位置区域作为目标区域。
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