[发明专利]一种基于粗糙集理论的测向系统构建方法有效
| 申请号： | 201910239713.6 | 申请日： | 2019-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN109991565B | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 陆安南;黄凯;尤明懿 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十六研究所 |
| 主分类号： | G01S3/14 | 分类号： | G01S3/14 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 庞许倩;姬长平 |
| 地址： | 314033 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于粗糙集理论的测向系统构建方法，属于测向系统设计技术领域，解决了现有测向系统总体设计过于依赖继承性且未对设计方案进行优化选择的问题。该方法包括如下步骤：选取测向体制；根据测向要求，计算天线单元参数，确定天线单元形式；根据上述测向体制和测向系统的测向精度要求，确定可选的天线阵布局方案以及对应的信号处理方式；对上述每种天线阵布局方案进行定量分析，结合粗糙集理论计算各天线阵布局方案的优先级系数，根据所述优先级系数选择最优布局方案，根据选择的所述最优布局方案构建测向系统。本发明引入了粗糙集理论进行测向系统设计，对多种可行的设计方案进行优化选择，从而得出满足系统指标、节省成本且可靠性较高的设计方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 粗糙 理论 测向 系统 构建 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于粗糙集理论的测向系统构建方法，其特征在于，包括如下步骤：选取测向体制；根据测向要求，计算天线单元参数，确定天线单元形式；根据上述测向体制和测向系统的测向精度要求，确定可选的天线阵布局方案以及对应的信号处理方式；对上述每种天线阵布局方案进行定量分析，结合粗糙集理论计算各天线阵布局方案的优先级系数，根据所述优先级系数选择最优布局方案；根据选择的所述最优布局方案构建测向系统。
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