[发明专利]衬底处理装置以及半导体器件的制造方法在审
申请号: | 201910240450.0 | 申请日: | 2016-07-27 |
公开(公告)号: | CN110010526A | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 西堂周平;吉田秀成;山口天和;中田高行;谷山智志 | 申请(专利权)人: | 株式会社国际电气 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/687;C23C16/44;C23C16/455;C23C16/458;C23C16/46 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟;沈静 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种能够缩短处理室内的升温时间的衬底处理装置以及半导体器件的制造方法。衬底处理装置具备:处理室,其对衬底进行处理;衬底保持件,其在处理室内保持衬底;处理气体供给部,其向处理室内供给处理气体;第1加热器,其设置于处理室外,对处理室内进行加热;隔热部,其设置于衬底保持件的下方;第2加热器,其设置于隔热部内,对处理室内进行加热;以及吹扫气体供给部,其向隔热部内供给吹扫气体,对隔热部内进行吹扫。 | ||
搜索关键词: | 隔热部 衬底处理装置 室内 加热器 半导体器件 衬底保持件 衬底 加热 处理气体供给部 吹扫气体供给部 处理气体 吹扫气体 吹扫 制造 室外 | ||
【主权项】:
1.一种衬底处理装置,其特征在于,具备:隔热部,其配置于保持衬底的衬底保持件的下方;反应管,其在内部构成处理室,该处理室包含供所述衬底保持件配置的处理区域和供所述隔热部配置的隔热区域;处理气体供给部,其对所述处理室内供给处理气体;第1加热器,其设置于所述处理室外,对所述处理室内进行加热;排气空间,其形成于所述反应管的侧方;第1排气口,其形成于划分所述排气空间与处理室的内壁,对所述处理区域的环境气体进行排气;排气端口,其连通于所述排气空间;吹扫气体供给部,其构成为对所述隔热区域供给吹扫气体,对所述隔热区域的至少一部分进行吹扫;以及第2排气口,其形成于所述内壁的与所述隔热区域在高度方向上重叠的位置,将所述隔热区域的环境气体向所述排气空间排气。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社国际电气,未经株式会社国际电气许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910240450.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:转动式芯片组装装置
- 下一篇:一种新型丝印返工片清洗机及其清洗方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造