[发明专利]一种工业环境下的纹理表面缺陷检测与分割装置及方法有效
| 申请号： | 201910241008.X | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN110232675B | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 王剑平;王海云;张果;欧阳鑫;杨晓洪;车国霖 | 申请（专利权）人： | 昆明理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/41;G06V10/46;G06V10/774;G06V10/764 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 650093 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种工业环境下的纹理表面缺陷检测与分割装置及方法，属于工业纹理表面缺陷检测与分割技术领域。本发明包括输入模块I、特征提取模块II、缺陷区域提取模块III、缺陷区域对齐模块IV、检测模块V、分割模块VI；所述输入模块I输出至特征提取模块II，特征提取模块II输出至缺陷区域提取模块III和缺陷区域对齐模块IV，缺陷区域提取模块III输出至缺陷区域对齐模块IV，缺陷区域对齐模块IV输出至检测模块V和分割模块VI；本发明能够自动获取多类缺陷具体类别、缺陷精确位置坐标和缺陷空间分布信息，对缺陷多尺度有良好的鲁棒性。对纹理表面缺陷有着广泛的适用性和较高的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 工业 环境 纹理 表面 缺陷 检测 分割 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种工业环境下的纹理表面缺陷检测与分割装置，其特征在于：包括输入模块I、特征提取模块II、缺陷区域提取模块III、缺陷区域对齐模块IV、检测模块V、分割模块VI；所述输入模块I输出至特征提取模块II，特征提取模块II输出至缺陷区域提取模块III和缺陷区域对齐模块IV，缺陷区域提取模块III输出至缺陷区域对齐模块IV，缺陷区域对齐模块IV输出至检测模块V和分割模块VI。
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