[发明专利]一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法在审
| 申请号： | 201910242261.7 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN109946488A | 公开（公告）日： | 2019-06-28 |
| 发明（设计）人： | 熊焰明;高敬一 | 申请（专利权）人： | 江苏伊施德创新科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司： | 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 | 代理人： | 顾吉云 |
| 地址： | 214028 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，能够使电容在连续进行老化和测试时效率高。先将电容封装在封闭式夹具中，当要进行测试时，将其插入测试机中进行测试，其特征在于：当需要进行老化时，先将装有电容的封闭式夹具插装在老化板上，每个老化板上的封闭式夹具数量大于等于2个，再将装载有封闭式夹具的老化板插入老化机进行老化。 | ||
| 搜索关键词： | 夹具 电容 老化 测试 老化板 片式陶瓷 电容封装 测试机 老化机 插装 装载 | ||
【主权项】：
1.一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法，先将电容封装在封闭式夹具中，当要进行测试时，将装有电容的封闭式夹具插入测试机中进行测试，其特征在于：当需要进行老化时，先将装有电容的封闭式夹具插装在老化板上，每个老化板上的封闭式夹具数量大于等于2个，再将装载有封闭式夹具的老化板插入老化机进行老化。
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