[发明专利]光学复杂曲面元件的磁流变抛光补偿加工方法、系统及介质有效
申请号: | 201910243077.4 | 申请日: | 2019-03-28 |
公开(公告)号: | CN109909815B | 公开(公告)日: | 2020-06-02 |
发明(设计)人: | 彭小强;胡皓;戴一帆;赵陶;铁贵鹏;石峰;李信磊 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00;B24B13/00;B24B49/00;G06F30/17;G06F30/20 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 谭武艺 |
地址: | 410073 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种光学复杂曲面元件的磁流变抛光补偿加工方法、系统及介质,本发明的磁流变抛光补偿加工方法包括:获取平面去除函数;映射得到不同曲率下的球面去除函数;针对待加工工件面形区域内的每一个驻留点,拟合计算驻留点附近的复杂曲面局部区域的最接近球面,以该复杂曲面局部区域的最接近球面的曲率对应的球面去除函数近似作为该驻留点附近的复杂曲面局部区域的去除函数;建立基于线性方程组模型的驻留时间求解算法,仿真求得各个驻留点的驻留时间分布及面形残差,指导待加工工件的磁流变抛光。本发明能够有效保证了加工过程中的确定性,且提高了加工过程中的收敛率。 | ||
搜索关键词: | 光学 复杂 曲面 元件 流变 抛光 补偿 加工 方法 系统 介质 | ||
【主权项】:
1.一种光学复杂曲面元件的磁流变抛光补偿加工方法,其特征在于实施步骤包括:1)对与待加工工件相同材料的平面工件获取平面去除函数Fflat;2)对待加工工件建立相同工况不同曲率半径下球面去除函数和平面去除函数的映射关系,根据该映射关系将平面去除函数Fflat映射得到不同曲率下的球面去除函数Fj‑sphere;3)针对待加工工件面形区域内的每一个驻留点,拟合计算驻留点附近的复杂曲面局部区域Sj‑asphere的最接近球面Sj‑sphere,以该复杂曲面局部区域Sj‑asphere的最接近球面Sj‑sphere的曲率对应的球面去除函数Fj‑sphere近似作为该驻留点附近的复杂曲面局部区域的去除函数;4)根据去除函数动态变化性,建立基于线性方程组模型的驻留时间求解算法,仿真求得各个驻留点的驻留时间分布及面形残差;5)根据得到的各个驻留点的驻留时间分布及面形残差指导待加工工件的磁流变抛光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科技大学,未经中国人民解放军国防科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910243077.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电解旋转超声磁力复合对孔边毛刺去除的装置
- 下一篇:下刀刃口双磨头磨刀机