[发明专利]失效分析方法、装置、设备和存储介质有效
| 申请号： | 201910243451.0 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN109948276B | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 王弘剑;刘丽媛;彭泽亚;王有亮;赵振博 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G06F30/27 | 分类号： | G06F30/27;G06N20/00 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 王珊珊;刘广 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质，计算机设备获取待测失效器件的至少一个测试数据；然后将测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理，获取与每个测试数据关联的失效节点信息；失效节点信息包括测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点，下级失效事件节点为上级失效事件节点的备选失效机理；最后根据每个测试数据关联的失效节点信息，构建各个失效事件节点之间的父子关系，并根据父子关系确定最底层的失效事件节点为待测失效器件的目标失效机理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 失效 分析 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种失效分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测失效器件的至少一个测试数据；将所述测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理，获取与每个测试数据关联的失效节点信息；所述失效节点信息包括所述测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点，所述下级失效事件节点为所述上级失效事件节点的备选失效机理；根据每个测试数据关联的所述失效节点信息，构建各个失效事件节点之间的父子关系，并根据所述父子关系确定最底层的失效事件节点为所述待测失效器件的目标失效机理。
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