[发明专利]一种实体对齐方法及装置有效
| 申请号： | 201910243854.5 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN109960810B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 何芙珍;李直旭;陈志刚 | 申请（专利权）人： | 科大讯飞（苏州）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F40/289 | 分类号： | G06F40/289 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张小娜;王宝筠 |
| 地址： | 215028 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种实体对齐方法及装置，该方法通过迭代地执行两个筛选步骤获得第一实体对集合，而且，该两个步骤为：根据目标属性对在两个知识图谱中筛选出目标实体对，和根据目标实体对在两个知识图谱中筛选出新的目标属性对。由于第一实体对集合中的每个目标实体对均是通过不同实体之间的属性信息获得的，而且每个实体的属性信息能够更真实全面地代表该实体，因而，利用实体的属性信息进行实体对齐时，能够提高实体对齐结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实体 对齐 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种实体对齐方法，其特征在于，包括：在两个知识图谱中，确定已知的各个目标属性对，作为各个参考属性对；根据各个参考属性对在两个知识图谱中筛选出各个目标实体对；根据筛选出的目标实体对，在两个知识图谱中筛选出各个新的目标属性对，作为各个参考属性对，并继续执行所述根据各个参考属性对在两个知识图谱中筛选出各个目标实体对的步骤，直至无法筛选出目标实体对为止，形成第一实体对集合；其中，所述目标属性对所包括的两个属性相同、且这两个属性分别属于两个知识图谱；所述目标实体对所包括的两个实体相同、且这两个实体分别属于两个知识图谱。
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