[发明专利]一种基于纳米压入技术的非晶薄膜塑性变形表征方法有效
申请号: | 201910244528.6 | 申请日: | 2019-03-28 |
公开(公告)号: | CN109900570B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 王飞;黄平;马春芳 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01N3/42 | 分类号: | G01N3/42;G01N3/06 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 王艾华 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于纳米压入技术的非晶薄膜塑性变形表征方法。本发明的具体步骤如下:采用磁控溅射方法制备非晶合金薄膜材料;将非晶合金薄膜放在纳米压痕仪上并设定最大位移、应变速率、加载频率并进行测试;测试过程中记录载荷随位移的变化曲线,以及载荷位移曲线的斜率随位移的变化曲线;通过分析实验结果,找出数据中斜率变化的突跳点,分析突跳大小和频率,表征非晶薄膜材料塑性变形的均匀程度,预测非晶薄膜材料的塑韧性。本发明采用纳米压入测试中的载荷位移曲线的斜率表征非晶合金薄膜材料塑性变形方式,预测非晶合金薄膜材料塑韧性的方法操作简单方便,结果准确有效并且适用性强。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 纳米 技术 薄膜 塑性变形 表征 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于纳米压入技术的非晶薄膜塑性变形表征方法,其特征在于,具体步骤如下:(1)采用磁控溅射技术制备非晶薄膜;(2)将非晶薄膜放在纳米压痕仪上并设定最大位移为薄膜厚度,应变速率为0.005~0.2s‑1,加载频率为45Hz,进行测试;(3)测试过程中记录载荷位移曲线以及载荷位移曲线斜率随位移的变化曲线;用公式P=chm拟合载荷位移曲线,式中,P为载荷,h为压入位移,c和m是和加载速率以及压头形状相关的常量,得到理想情况下平滑载荷位移曲线,并计算得到平滑的载荷位移的斜率曲线;(4)分析实验得到的载荷位移斜率曲线和拟合斜率曲线,找出实验数据中斜率变化的突跳点,分析突跳幅度的大小和频率,表征非晶薄膜材料塑性变形的均匀程度。
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