[发明专利]一种测向方法、测向装置和测向系统有效

专利信息
申请号: 201910245683.X 申请日: 2019-03-28
公开(公告)号: CN109991566B 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 尤明懿;陆安南 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
主分类号: G01S3/14 分类号: G01S3/14;G06F18/2411;G06F18/214
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝;吴昊
地址: 314033 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开一种测向方法、测向装置和测向系统。本发明的测向系统包括:测向阵列、存储器和处理器;本发明的测向装置包括:接收单元、提取单元和测向单元;本发明的测向方法包括:获取接收信号,所述接收信号为利用测向阵列接收到的信号;提取所述接收信号的特征矢量,所述特征矢量为所述接收信号的协方差矩阵在其信号子空间的投影的归一化矢量;将所述特征矢量输入至预先训练好的支持向量机SVM模型,得到所述接收信号对应的辐射源类别,所述辐射源类别关联所述辐射源的方向。本发明的技术方案能够避免位置误差对测向阵列测向精度的影响,有效提高测向精度。
搜索关键词: 一种 测向 方法 装置 系统
【主权项】:
1.一种测向方法,其特征在于,包括:获取接收信号,所述接收信号为利用测向阵列接收到的信号;提取所述接收信号的特征矢量,所述特征矢量为所述接收信号的协方差矩阵在其信号子空间的投影的归一化矢量;将所述特征矢量输入至预先训练好的支持向量机SVM模型,得到所述接收信号对应的辐射源类别,所述辐射源类别关联所述辐射源的方向。
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