[发明专利]一种基于集成微腔的光谱探测芯片及重构方法在审

专利信息
申请号: 201910246109.6 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN110031098A 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 王少伟;刘清权;颜炎洪;陈旭;陆卫 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于集成微腔的光谱探测芯片及重构方法,本发明的光谱探测芯片是在普通阵列探测器芯片上,通过纳米压印技术和镀膜技术制作多通道集成分光结构,使得原探测器芯片上不同像元对入射光的响应不同,再利用光谱重构的方法还原出样品光谱。本发明的光谱探测芯片将分光和探测集于一体,使探测器本身就具备了光谱分辨能力,实现芯片级光谱仪器,具有体积小、成本低、分辨率高、制作方便等优点,在光谱分析领域具有重要的应用价值。
搜索关键词: 光谱探测 芯片 微腔 重构 光谱分辨能力 纳米压印技术 探测器芯片 阵列探测器 镀膜技术 分光结构 光谱分析 光谱仪器 光谱重构 样品光谱 制作方便 多通道 入射光 体积小 芯片级 再利用 分辨率 探测器 分光 像元 还原 探测 响应 制作 应用
【主权项】:
1.一种基于集成微腔的光谱探测芯片,其特征在于:所述的光谱探测芯片的结构为:在探测器部件(1)上依次为第一高反射层(2),纳米压印制作的阶梯状中间层(3),第二高反射层(4),带通滤光片(5),其中带通滤光片通过外部支架悬架于探测器结构框架之上;所述的阶梯状中间层(3)的材料为紫外纳米压印胶或热纳米压印胶,采用纳米压印技术制作,其阶梯状中间层(3)为一维阶梯状或者二维阶梯状介质层,台阶个数和探测器像元相匹配,台阶厚度由需要探测的波段范围和设计的分辨率决定。
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