[发明专利]一种绝缘子污秽程度非接触式检测方法及装置在审
| 申请号： | 201910247129.5 | 申请日： | 2019-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN109799245A | 公开（公告）日： | 2019-05-24 |
| 发明（设计）人： | 马御棠;邱彦;郭裕钧;钱国超;周仿荣;颜冰;彭兆裕;刘冲;潘浩;黄然;吴广宁 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/94 | 分类号： | G01N21/94 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种绝缘子污秽程度非接触式检测方法及装置，对不同污秽程度的绝缘子感兴趣区域高光谱谱线全波段数据进行无监督特征学习，获得相邻层次的连接权重和特征表示；根据连接权重、特征表示和不同污秽程度的绝缘子谱线数据建立基于层次极限学习机的绝缘子污秽程度预测模型；优化所述绝缘子污秽程度预测模型；通过优化后的所述绝缘子污秽程度预测模型对绝缘子各局部区域的污秽程度进行判定，最终实现未知污秽程度绝缘子的大规模、快速和精确的非接触检测，层次极限学习机算法的引入可以很好地辅助高光谱技术判定绝缘子污秽程度，检测过程简单高效，使绝缘子的清扫工作更具目标性、针对性和客观性，为非接触式绝缘子污秽度判定提供科学依据。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘子污秽 绝缘子 污秽 程度预测 非接触式检测 极限学习机 特征表示 高光谱 判定 绝缘子污秽度 非接触检测 感兴趣区域 非接触式 技术判定 局部区域 谱线数据 特征学习 目标性 权重和 全波段 无监督 谱线 权重 算法 优化 清扫 引入 检测 申请 | ||
【主权项】：
1.一种绝缘子污秽程度非接触式检测方法，其特征在于，包括：对不同污秽程度的绝缘子感兴趣区域高光谱谱线全波段数据进行无监督特征学习，获得相邻层次的连接权重和特征表示；根据所述连接权重、所述特征表示和不同污秽程度的绝缘子谱线数据建立基于层次极限学习机的绝缘子污秽程度预测模型；优化所述绝缘子污秽程度预测模型；通过优化后的所述绝缘子污秽程度预测模型对绝缘子各局部区域的污秽程度进行判定。
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