[发明专利]原子吸光光度计和原子吸光光度计的极微量分析诊断方法在审

专利信息
申请号: 201910247666.X 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN110320167A 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 山本和子;西村崇;石田浩康;坂元秀之 申请(专利权)人: 日本株式会社日立高新技术科学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/15
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 孙明浩;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供原子吸光光度计和原子吸光光度计的极微量分析诊断方法。在电加热原子吸光中进行极微量分析的情况下,当存在污染的影响时,无法得到正确的分析值。以往,测定者根据经验反复进行用于确定污染源的事前测定,需要时间和劳力。分析初学者无法进行针对污染的判断,有时得出错误的结果。为了解决上述课题而完成的本发明是具有“极微量分析诊断系统”的装置和系统,其具有原子吸光光度计主体、自动取样器和操作用PC,对判定包含反应杯在内的电加热炉、自动取样器的送液路径、样品杯和测定溶剂等的污染的顺序进行自动化。
搜索关键词: 原子吸光 光度计 极微量 自动取样器 分析 污染 分析诊断系统 电加热炉 诊断 电加热 反应杯 样品杯 溶剂 送液 判定 污染源 自动化
【主权项】:
1.一种原子吸光光度计,其特征在于,所述原子吸光光度计具有能够进行电加热测定的原子吸光光度计主体、自动取样器和操作用计算机,所述原子吸光光度计具有微量分析诊断部,该微量分析诊断部判定包含反应杯在内的电加热炉、自动取样器的送液路径和样品杯有无基于测定对象元素的微量污染。
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