[发明专利]基线伸缩与旋转的合成孔径光学成像试验系统

摘要

本发明公开了一种基线伸缩与旋转的合成孔径光学成像试验系统，包括：目标光源；子孔径，为多组主动式光学反射镜，各子孔径采用分立式结构，每个子孔径设于对应的滑轨上并能够沿滑轨滑动，滑轨沿高精密转台的径向设置；光路折转模块，光程探测模块，倾斜探测模块，第一变阵控制模块，第二变阵控制模块，聚焦透镜和合光成像模块。本发明实现基线旋转和伸缩，依靠子孔径的主动光学系统，通过倾斜探测和光程探测的双闭环回路校正，实时补偿指向偏差和光程偏差，保证光路折转模块发出的光经过聚焦透镜后，实现等相位干涉，为光干涉合成孔径成像理论和光路设计提供验证平台，提高成像系统的精度。

主权项

1.一种基线伸缩与旋转的合成孔径光学成像试验系统，其特征在于，包括：目标光源（1），用于产生成像目标发出的光信号；子孔径（4），用于接收目标光源（1）发出的光信号，子孔径（4）为多组主动式光学反射镜，各子孔径（4）采用分立式结构，每个子孔径（4）设于对应的滑轨（13）上并能够沿滑轨（13）滑动，滑轨（13）沿高精密转台（3）的径向设置；光路折转模块（5），用于将子孔径（4）输出的光线折转为三路，一路进入聚焦透镜（10），另外两路分别进入光程探测模块（6）和倾斜探测模块（7）；光程探测模块（6），用于接收和识别光路折转模块（5）发出光信号的垂直光程差，将其变为电信号，通过第二变阵控制模块（9）控制和调整子孔径（4）的垂直距离；光程探测模块（6）与第二变阵控制模块（9）构成闭环回路校正系统；倾斜探测模块（7），用于接收和识别光路折转模块（5）发出光信号的倾斜光程差，将其变为电信号，通过第一变阵控制模块（8）控制和调整子孔径（4）的倾斜度；倾斜探测模块（7）与第一变阵控制模块（8）构成闭环回路校正系统；合光成像模块（11），用于接收透过聚焦透镜（10）的光信号，进行合光成像。