[发明专利]用于系外行星探测的合成孔径光学成像试验系统有效

专利信息
申请号: 201910248547.6 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN109946712B 公开(公告)日: 2020-08-28
发明(设计)人: 孙海峰;方海燕;杨秉青;朱建文;沈利荣;刘彦明;李小平;苏剑宇;张力 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S17/90 分类号: G01S17/90
代理公司: 西安知诚思迈知识产权代理事务所(普通合伙) 61237 代理人: 闵媛媛
地址: 710126 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种用于系外行星探测的光学合成孔径成像试验系统,包括:恒星‑行星光源模拟器输出具有一定角度差异、亮度不同的两束平行光;可控孔径阵列包括多个单独控制的子孔径;聚焦成像模块汇聚可控孔径阵列输出的光信号,并发送至显微成像模块;显微成像模块产生并放大干涉条纹信号,并发送至数据处理模块;数据处理模块记录干涉条纹,并控制可控孔径阵列执行下一次子孔径组合的通与断,以模拟基线变化,当基线变化足够进行成像的UV覆盖后,根据记录的干涉条纹进行成像解算。本发明利用可控孔径阵列引入等效的子孔径空间运动,有效降低了系统模拟的复杂度和成本,同时避免了多镜系统中因面型差异引入的额外误差。
搜索关键词: 用于 外行 探测 合成 孔径 光学 成像 试验 系统
【主权项】:
1.一种用于系外行星探测的光学合成孔径成像试验系统,其特征在于,包括恒星‑行星光源模拟器(1),用于输出具有一定角度差异、亮度不同的两束平行光,模拟系外恒星和行星产生的光信号;可控孔径阵列(2),用于接收恒星‑行星光源模拟器(1)产生的光信号,包括多个单独控制的子孔径;聚焦成像模块(3),用于汇聚可控孔径阵列(2)输出的光信号,并发送至显微成像模块(4);显微成像模块(4),用于产生并放大干涉条纹信号,并发送至数据处理模块(5);数据处理模块(5),用于记录干涉条纹,并控制可控孔径阵列(2)执行下一次子孔径组合的通与断,以模拟基线变化,当基线变化足够进行成像的UV覆盖后,根据记录的干涉条纹进行成像解算,重构出恒星‑行星光源的图像信息。
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