[发明专利]一种光学遥感器内方位元素及畸变测试系统及方法有效
| 申请号： | 201910252925.8 | 申请日： | 2019-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN109959501B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 王东杰;郑君;李重阳;马丽娜;焦文春;赵英龙;贾馨;岳丽清;刘君航;王静怡 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 茹阿昌 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种光学遥感器内方位元素及畸变测试系统及方法，包括：平行光管、光电自准直仪、测试平台、数据处理系统。数据处理系统根据待测光学遥感器的视场角确定n组测试数据并根据光电自准直仪测试得到的平行光管光轴的角度偏移量以及平行光管分划板在待测光学遥感器探测器上的成像位置，确定待测光学遥感器的内方位元素和待测光学遥感器的相机畸变。测试平台根据测试数据改变平行光管的位置，使平行光管光轴与待测光学遥感器光轴之间的夹角等于测试旋转角，同时使平行光管物镜的中心到待测光学遥感器光轴的垂直距离等于与测试旋转角对应的测试高度。本发明解决了传统内方位元素测试装置不适用于入瞳位置距离镜头较远的长焦距、大宽幅型光学遥感器的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 遥感 方位 元素 畸变 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学遥感器内方位元素及畸变测试系统，其特征在于，包括：平行光管(3)、光电自准直仪、测试平台(2)、数据处理系统(11)；平行光管(3)：用于产生射入待测光学遥感器(1)的平行光源；光电自准直仪：用于测试所述平行光管(3)光轴的角度偏移量；数据处理系统(11)：根据待测光学遥感器(1)的视场角确定n组测试数据，n为正整数；每组测试数据包括测试旋转角和测试高度；获取每组测试数据对应的平行光管(3)分划板在待测光学遥感器(1)探测器上的成像位置；根据所述光电自准直仪测试得到的平行光管(3)光轴的角度偏移量以及所述平行光管(3)分划板在待测光学遥感器(1)探测器上的成像位置，确定待测光学遥感器(1)的内方位元素和待测光学遥感器(1)的相机畸变；所述平行光管(3)和待测光学遥感器(1)放置在所述测试平台(2)上；测试平台(2)：根据所述数据处理系统(11)确定的n组测试数据改变所述平行光管(3)的位置，使所述平行光管(3)的光轴与待测光学遥感器(1)的光轴之间的夹角等于测试旋转角，同时使平行光管(3)物镜的中心到待测光学遥感器(1)光轴的垂直距离等于与所述测试旋转角对应的测试高度。
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