[发明专利]一种纳米级分辨率集成光学量子温度计有效
| 申请号： | 201910255272.9 | 申请日： | 2019-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN109945986B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 张益溢;金尚忠;金怀洲;赵春柳;石岩;徐睿;陈义;赵天琦;周亚东 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01K11/32 | 分类号： | G01K11/32 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种纳米级分辨率集成光学量子温度计。所述光学量子温度计包括分光检测装置、量子温度感应腔。在特定波长激光激发下，根据SiC晶体产生交叉弛豫(CR)现象时其光致发光(PL)强度显著变化的物理现象，确定CR位置与对应的磁场强度。温度变化1mK时，会导致数nT的磁场频移变化，据此确定不同温度分别对应的CR位置及其磁场强度，构建磁场中CR位置与温度的校准曲线，通过宏/微驱动定位平台实现纳米级空间分辨率，由上位机检测显示PL强度变化得到SiC晶体的CR位置并根据校准曲线获得待测样品材料的温度分布图。本发明基于SiC的自旋和CR现象，空间分辨率达到纳米级，实现了10mK/Hz |
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| 搜索关键词： | 一种 纳米 分辨率 集成 光学 量子 温度计 | ||
【主权项】：
1.一种纳米级分辨率集成光学量子温度计，其特征在于，所述集成光学量子温度计达到纳米级空间分辨率，其结构包括分光检测装置、量子温度感应腔。
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