[发明专利]测试系统有效

专利信息
申请号: 201910256105.6 申请日: 2019-04-01
公开(公告)号: CN111726174B 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 方柏翔;陈冠达;卢盈维;赖佳助;谢承财 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15;H04B17/29
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台湾台中*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明披露一种测试系统,包括双线性极化天线、相位延迟器、分功器与高频讯号收发机。双线性极化天线将有关待测物的水平极化路径与垂直极化路径的圆形极化无线电波分成一第一高频讯号与一第二高频讯号,相位延迟器将第一高频讯号的相位延迟90度而形成一具相位延迟90度的第一高频讯号,且分功器接收或合成具相位延迟90度的第一高频讯号与第二高频讯号。同时,高频讯号收发机量测具相位延迟90度的第一高频讯号与第二高频讯号的功率,以判断待测物的水平极化路径与垂直极化路径的状态。借此,本发明能加快待测物的量测速度。
搜索关键词: 测试 系统
【主权项】:
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