[发明专利]基于相位调制的干涉型痕量气体探测系统在审

专利信息
申请号: 201910256389.9 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN109856086A 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 林学春;白云瑞;张景园;张玲;杨莹盈;杨松;黄俊媛 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39;G01N21/01
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李坤
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于相位调制的干涉型痕量气体探测系统,包括:DFB光源,用于输出光;信号发生源,一端与所述DFB光源的一端相连,用于对所述DFB光源的输出光进行调制,输出参考信号;光纤隔离器,一端与所述DFB光源的另一端相连,用于抑制回波;MZI光纤干涉仪,与所述光纤隔离器相连,包括:气室,充有待测痕量气体,作为所述MZI光纤干涉仪的信号臂;以及PZT相位调制器,与所述气室并联关系,作为所述MZI光纤干涉仪的参考臂;终端信号处理模块,其一输入端与所述信号发生源相连,其另一输入端经光电二极管与所述MZI光纤干涉仪相连,所述终端信号处理模块用于接收信号发生源输出的参考信号及MZI光纤干涉仪的输出信号,并获取痕量气体浓度信息。
搜索关键词: 痕量气体 信号发生源 光纤干涉 终端信号处理模块 光纤干涉仪 光纤隔离器 探测系统 相位调制 干涉型 输出光 输入端 气室 光电二极管 相位调制器 并联关系 浓度信息 输出信号 输出 参考臂 信号臂 回波 调制
【主权项】:
1.一种基于相位调制的干涉型痕量气体探测系统,包括:DFB光源,用于输出光;信号发生源,一端与所述DFB光源的一端相连,用于对所述DFB光源的输出光进行调制,输出参考信号;光纤隔离器,一端与所述DFB光源的另一端相连,用于抑制回波;MZI光纤干涉仪,与所述光纤隔离器相连,包括:气室,充有待测痕量气体,作为所述MZI光纤干涉仪的信号臂;以及PZT相位调制器,与所述气室并联关系,作为所述MZI光纤干涉仪的参考臂;终端信号处理模块,其一输入端与所述信号发生源相连,其另一输入端经光电二极管与所述MZI光纤干涉仪相连,所述终端信号处理模块用于接收信号发生源输出的参考信号及MZI光纤干涉仪的输出信号,并获取痕量气体浓度信息。
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