[发明专利]用于抑制印制电路板锡须生长的化学浸锡镀液及施镀方法有效

专利信息
申请号: 201910260892.1 申请日: 2019-04-02
公开(公告)号: CN110004434B 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 王翀;罗佳玉;张东明;何为;王守绪;徐佳莹;何伍洪;陈苑明;周国云;洪延 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: C23C18/31 分类号: C23C18/31;C23C18/48;C23C18/18
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 甘茂
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于印制电路板制备领域,提供一种用于抑制印制电路板锡须生长的化学浸锡镀液及施镀方法,通过化学浸锡过程中共沉积起到阻挡作用的金属,抑制铜锡合金的生成,达到消除锡须的目的。本发明中化学浸锡镀液包括:浓度为20‑30g/L的锡盐、浓度为10~40g/L的镍盐、钴盐中的至少一种、浓度为20~50g/L的还原剂、浓度为0.1~50g/L的络合剂、浓度为1~10g/L的稳定剂及pH调节剂。与传统印制电路板表面终饰技术相比,使用本发明能够大大降低了锡须的生长速率,达到抑制锡须生长的目的,极大程度上减少了器件表面锡须的生长,有较好的应用前景。
搜索关键词: 用于 抑制 印制 电路板 须生 化学 浸锡镀液 方法
【主权项】:
1.用于抑制印制电路板锡须生长的化学共沉积镀液,其特征在于,包括:锡盐:所述锡盐为硫酸亚锡,浓度为20‑30g/L;镍盐、钴盐中的至少一种:所述镍盐为硫酸镍、乙酸镍、硝酸镍中的一种或以上,所述钴盐为硫酸钴、乙酸钴、硝酸钴中的一种或以上,浓度为10~40g/L;还原剂:所述还原剂为次亚磷酸钠,浓度为20~50g/L;络合剂:所述络合剂为柠檬酸、乳酸、苹果酸、酒石酸钾钠、硫脲、三乙醇胺、甘氨酸、乙二胺四乙酸二钠、乙二胺的一种或以上,浓度为0.1~50g/L;稳定剂:所述稳定剂为对苯二酚,浓度为1~10g/L;pH调节剂:所述pH调节剂为氨水、氢氧化钠、硫酸的一种或以上;所述化学浸锡镀液的pH值为0.5~2.0。
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