[发明专利]一种PCIe注错测试方法、装置以及存储介质有效
| 申请号： | 201910261977.1 | 申请日： | 2019-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN111767241B | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 杨承达;陈燕炫 | 申请（专利权）人： | 富联精密电子（天津）有限公司 |
| 主分类号： | G06F13/40 | 分类号： | G06F13/40;G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 汪飞亚;习冬梅 |
| 地址： | 300457 天津市滨*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种PCIe注错测试方法、装置以及存储介质。所述PCIe注错测试方法包括根据接收的目标信息构建注错测试平台；注错测试平台包括至少一个测试系统和控制系统；在侦测到设定指令时设定测试系统的安全启动为禁用状态；获取并显示PLX总线信息；总线信息包括多组测试对象；在侦测到位置选择指令时根据总线信息选择一组测试对象；在侦测到注错选择指令时，控制测试对象模拟至少一个注错测试项目；注错测试项目包括可修正的注错测试项目和不可修正的注错测试项目；获取并分析PCIe的注错结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcie 测试 方法 装置 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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