[发明专利]镍基单晶气膜孔结构件原始疲劳质量的评估方法在审

专利信息
申请号: 201910267653.9 申请日: 2019-04-03
公开(公告)号: CN110032786A 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 温志勋;岳珠峰;王昭晗;李振威;程昊;蒋波;许壮壮 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G01N33/204;G01N33/2045
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 阚梓瑄
地址: 710072 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 本公开是关于一种镍基单晶气膜孔结构件原始疲劳质量的评估方法。该评估方法包括:提供多组试验件,每组均包括多个试验件,对各组试验件预设不同条件进行疲劳测试;疲劳测试完成后,对试验件进行金相观测并进行断口分析;获取测试数据,根据所述测试数据确定TTCI分布;根据所述TTCI分布与所述断口分析的数据确定EIFS控制方程,并建立通用EIFS分布;根据所述通用EIFS分布确定试验件寿命;确定原始疲劳质量符合性判据;将确定的试验件寿命与所述判据进行比较;输出原始疲劳质量评估结果。本公开提供的评估方法,能够预测出在不同条件下的气膜孔结构疲劳寿命,从而基于原始疲劳质量符合检查判据,实现对气膜孔结构件原始疲劳质量的设计进行判定。
搜索关键词: 试验件 疲劳 气膜孔 结构件 判据 评估 不同条件 断口分析 镍基单晶 疲劳测试 质量符合 测试数据确定 结构疲劳寿命 质量评估结果 测试数据 控制方程 数据确定 通用 预设 判定 观测 输出 预测 检查
【主权项】:
1.一种镍基单晶气膜孔结构件原始疲劳质量的评估方法,其特征在于,包括:提供多组试验件,每组均包括多个试验件,对各组试验件预设不同条件进行疲劳测试;疲劳测试完成后,对试验件进行金相观测并进行断口分析;获取测试数据,根据所述测试数据确定TTCI分布;根据所述TTCI分布与所述断口分析的数据确定EIFS控制方程,并建立通用EIFS分布;根据所述通用EIFS分布确定试验件寿命;确定原始疲劳质量符合性判据;将确定的试验件寿命与所述判据进行比较;输出原始疲劳质量评估结果。
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