[发明专利]双向功率器件及其制造方法在审
申请号: | 201910268168.3 | 申请日: | 2019-04-03 |
公开(公告)号: | CN110137243A | 公开(公告)日: | 2019-08-16 |
发明(设计)人: | 张邵华 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/10;H01L29/423;H01L29/78 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;岳丹丹 |
地址: | 310012*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 公开了一种双向功率器件及其制造方法,双向功率器件包括:半导体层;位于半导体层中的沟槽;位于所述沟槽侧壁上的栅介质层;位于所述沟槽下部的控制栅;位于所述沟槽上部的屏蔽栅;以及位于所述控制栅和所述屏蔽栅之间的隔离层,其中,所述控制栅与所述半导体层之间由所述栅介质层隔开。本申请中屏蔽栅位于彼此隔离的控制栅上方,且通过屏蔽介质层与源区和漏区隔离,双向功率器件截止时屏蔽栅通过屏蔽介质层耗尽源区和漏区的电荷,提高耐压特性;双向功率器件导通时,源区和/或漏区与半导体层提供低阻抗的导通路径。 | ||
搜索关键词: | 双向功率 半导体层 控制栅 屏蔽栅 漏区 源区 屏蔽介质层 栅介质层 隔离 导通路径 沟槽侧壁 电荷 低阻抗 隔离层 导通 隔开 耐压 耗尽 制造 截止 申请 | ||
【主权项】:
1.一种双向功率器件,其特征在于,包括:半导体层;位于半导体层中的沟槽;位于所述沟槽侧壁上的栅介质层;位于所述沟槽下部的控制栅;位于所述沟槽上部的屏蔽栅;以及位于所述控制栅和所述屏蔽栅之间的隔离层,其中,所述控制栅与所述半导体层之间由所述栅介质层隔开。
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