[发明专利]一种大梯度自由曲面测量方法有效

专利信息
申请号: 201910268302.X 申请日: 2019-04-03
公开(公告)号: CN110030944B 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 金川;何渝;唐燕;冯金花;胡松;赵立新 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种大梯度自由曲面测量方法,对待测自由曲面施加一定的角度,完成待测自由曲面衍射物光波的空间频率调制,被图像传感器采集。通过调整多个角度并记录多帧自由曲面不同角度的全息图,然后通过图像处理算法,完成每帧全息图条纹稀疏子区域的选取,再由数字重建算法恢复出被调制的待测自由曲面的子区域三维结构。最后,根据解调算法可恢复原始待测自由曲面的子区域三维结构,利用合适的拼接算法实现多帧子区域的波前数据拟合,即可恢复出自由曲面的三维面形信息。本发明通过倾斜角度的引入实现了对自由曲面高频信息的采集过程,为自由曲面测量提供了新的解决方案。
搜索关键词: 一种 梯度 自由 曲面 测量方法
【主权项】:
1.一种大梯度自由曲面测量方法,其特征在于:所述的自由曲面测量方法包括如下步骤:步骤1、对待测自由曲面施加一定的角度,完成待测自由曲面衍射物光波的空间频率调制,使得衍射物光波与参考光干涉生成的全息图部分子区域条纹密度降低,被图像传感器采集;步骤2、由于一帧全息图只能获得自由曲面的部分梯度信息,所以需要调整多个角度并记录多帧自由曲面不同角度的全息图,然后通过图像处理算法,完成每帧全息图条纹稀疏子区域的选取,再由数字重建算法恢复出被调制的待测自由曲面的子区域三维结构;步骤3、根据解调算法可恢复原始待测自由曲面的子区域三维结构,利用合适的拼接算法实现多帧子区域的波前数据拟合,即可恢复出待测自由曲面的三维面形信息。
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