[发明专利]一种测试结构、基板及其制造方法

摘要

本申请公开了一种测试结构、基板及其制造方法。基板分为至少一个显示基板区和位于所述显示基板区之间的间隔区，所述间隔区内设置有至少一个测试区，所述显示基板区和所述测试区同步形成绝缘层、过孔和透明电极，通过检测测试区过孔内透明电极的电阻反应测试区过孔的钻蚀情况，从而了解显示基板中过孔的钻蚀情况；本申请采用线上检测，能够及时发现一整套显示基板的钻蚀问题，不需要在线下对显示基板一个个地测量，节省大量的时间和人力，提高生产效率。

主权项

1.一种基板，其特征在于，分为至少一个显示基板区和位于所述显示基板区之间的间隔区，所述间隔区内设置有至少一个测试区，所述基板包括：衬底；金属层，设置在所述衬底上；绝缘层，设置在所述金属层上；多个第一过孔，设置在所述显示基板区内，贯穿所述显示基板区的绝缘层；至少一个第二过孔，设置在所述测试区内，贯穿所述测试区的绝缘层；第一透明电极，设置在所述显示基板区的绝缘层上和所述第一过孔内，连接所述金属层；以及第二透明电极，设置在所述第二过孔内，连接所述金属层；其中，所述第一过孔与所述第二过孔通过同一道制程形成，所述第一透明电极与所述第二透明电极通过同一道制程形成。