[发明专利]一种显示面板缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201910270910.4 | 申请日： | 2019-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN110033443B | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 马卫飞;张胜森;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 罗飞 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种特征提取网络及其显示面板缺陷检测方法，其中的特征提取网络，包括：输入层、特征提取层和输出层，输入层用于将待处理的图像传递至特征提取层；特征提取层，包括低层网络特征提取模块、中层网络特征提取模块、高层网络特征提取模块，其中，低层网络特征提取模块、中层网络特征提取模块、高层网络特征提取模块之间通过密集连接和递减连接的方式连接，分别用于对待处理的图像进行特征提取；输出层，用于接收特征提取层输出的特征映射图，并进行输出。本发明不仅大幅降低了显示面板缺陷检测的过检率和漏检率，并且鲁棒性更高，也降低了深度学习模型对于训练样本数量的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 面板 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种特征提取网络，其特征在于，包括：输入层、特征提取层和输出层，输入层，用于将待处理的图像传递至特征提取层；特征提取层，包括低层网络特征提取模块、中层网络特征提取模块、高层网络特征提取模块，其中，低层网络特征提取模块、中层网络特征提取模块、高层网络特征提取模块之间通过密集连接和递减连接的方式连接，分别用于对待处理的图像进行特征提取；输出层，用于接收特征提取层输出的特征映射图，并进行输出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司，未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910270910.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
