[发明专利]一种高温度稳定性紫外雪崩光电探测器及其制备方法在审
申请号: | 201910271776.X | 申请日: | 2019-04-04 |
公开(公告)号: | CN109980039A | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 余晨辉;李林;徐腾飞;陈红富 | 申请(专利权)人: | 南通大学 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/18 |
代理公司: | 常州易瑞智新专利代理事务所(普通合伙) 32338 | 代理人: | 徐琳淞 |
地址: | 226000*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种高温度稳定性紫外雪崩光电探测器及其制备方法,其中高温度稳定性紫外雪崩光电探测器,其结构从下至上依次为AlN模板层、AlN缓冲层、n型AlGaN层、i型GaN吸收层、n型GaN分离层、GaN/AlN能带调制周期结构层和p型GaN层;所述n型AlGaN层上引出有n型欧姆电极;所述p型GaN层上引出有p型欧姆电极;所述GaN/AlN能带调制周期结构层由交替设置的多层GaN层和AlN层组成。本发明的高温度稳定性紫外雪崩光电探测器对于更广泛的应用范围具有很强的适应性,特别是对于挥发温度下的应用。 | ||
搜索关键词: | 紫外雪崩光电探测器 高温度稳定性 调制周期 结构层 制备 交替设置 分离层 吸收层 多层 挥发 应用 | ||
【主权项】:
1.一种高温度稳定性紫外雪崩光电探测器,其特征在于:其结构从下至上依次为AlN模板层(1)、AlN缓冲层(2)、n型AlGaN层(3)、i型GaN吸收层(4)、n型GaN分离层(5)、GaN/AlN能带调制周期结构层(6)和p型GaN层(7);所述n型AlGaN层(3)上引出有n型欧姆电极(31);所述p型GaN层(7)上引出有p型欧姆电极(71);所述GaN/AlN能带调制周期结构层(6)由交替设置的多层GaN层和AlN层组成。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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