[发明专利]体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 201910275709.5 | 申请日： | 2019-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN109990744B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 王永明;涂俊杰;刘必成;张浩然;许艳伟;喻卫丰;胡煜;宗春光 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司;同方威视科技（北京）有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | G01B15/00 | 分类号： | G01B15/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 李昊;许蓓 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质，涉及辐射领域。体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。通过将X射线扫描应用于体积测量中，可以通过X射线的测量结果获得被测对象的物质类型和多个位置、角度的尺寸信息，从而可以更准确地测量被测对象的体积。 | ||
| 搜索关键词： | 体积 测量方法 装置 系统 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的所述厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。
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