[发明专利]边界扫描设计环境下一种安全的密码芯片可测试性设计结构在审
| 申请号： | 201910278520.1 | 申请日： | 2019-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN110020558A | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | 王伟征;王威;蔡烁 | 申请（专利权）人： | 长沙理工大学 |
| 主分类号： | G06F21/75 | 分类号： | G06F21/75;H04L9/00;H04L9/06;H04L9/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 410114 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了边界扫描设计环境下一种保护AES密码芯片免受扫描攻击的可测试性设计结构。该安全的可测试性设计结构在常规边界扫描设计结构的基础上引入了移位使能逻辑、扫描链模式切换复位逻辑和密钥隔离逻辑。移位使能逻辑用于在功能模式下禁用扫描移位操作；扫描链模式切换复位逻辑使芯片在从功能模式切换到测试模式时首先执行一次复位操作，从而保护了存储在扫描链中的机密信息；密钥隔离逻辑用于在测试模式下隔离加密密钥，从而阻止攻击者在测试模式下获取密钥信息。本发明没有引入新的输入、输出信号，仅需要很少的硬件开销，能够对芯片进行自动保护，在不折损电路可测试性的前提下，能够抵御所有潜在的基于扫描的侧信道攻击。 | ||
| 搜索关键词： | 边界扫描设计 可测试性设计 测试模式 扫描链 复位逻辑 功能模式 密码芯片 密钥隔离 模式切换 扫描 移位 使能 芯片 复位操作 机密信息 加密密钥 可测试性 密钥信息 输出信号 信道攻击 移位操作 硬件开销 自动保护 攻击 潜在的 引入 禁用 折损 电路 存储 隔离 安全 | ||
【主权项】：
1.边界扫描设计环境下一种安全的密码芯片可测试性设计结构，其特征在于，在常规边界扫描设计的基础上引入了移位使能逻辑、扫描链模式切换复位逻辑和密钥隔离逻辑。移位使能逻辑用于在功能模式下禁用扫描移位操作；扫描链模式切换复位逻辑使芯片在从功能模式切换到测试模式时首先执行一次复位操作，从而保护了存储在扫描链中的机密信息；密钥隔离逻辑用于在测试模式下隔离加密密钥，从而阻止攻击者在测试模式下获取密钥信息。
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