[发明专利]一种产品缺陷检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910285540.1 申请日: 2019-04-10
公开(公告)号: CN109916914B 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 钱翔;彭博;李星辉;周倩;倪凯;王晓浩 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 王震宇
地址: 518055 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种产品缺陷检测方法及装置,该方法对原始图像中的产品提取外轮廓,并采用形态学操作依次提取次级内轮廓,将轮廓信息存储在链表中,并利用轮廓信息进行特定图像处理,实现高精度缺陷检测。本发明这种基于轮廓信息的缺陷检测方法达到了对边缘过渡圆角部分的缺陷检测。
搜索关键词: 一种 产品 缺陷 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种产品缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、采集产品的原始图像,并提供具有与所述原始图像中的产品像素点一一对应的像素点的空白图像,所述空白图像的各像素点按照二值形式初始设为0值;S2、对所述原始图像进行形态学操作,取得包括产品的外轮廓和一级以上次级内轮廓在内的多级轮廓;S3、从所述原始图像中提取产品外轮廓的像素点信息,并存储在一首尾相接的链表中,所述像素点信息包括像素点的坐标值、灰度值以及用于确定当前像素点的前、后像素点的信息;S4、确定所述链表中的每个像素点灰度值与周围像素点灰度值的差异度值;S5、将每个像素点的所述差异度值与设定阈值进行比较,当像素点的所述差异度值大于设定阈值时,确定该像素点为缺陷位置像素点;S6、从所述链表中获得所述缺陷位置像素点的坐标信息,根据所述坐标信息在所述空白图像中找到对应的像素点,所述空白图像中找到的对应像素点的灰度值调整成1值;S7、对每一级内轮廓均重复执行步骤S3‑S6,其中根据在每一级内轮廓上所确定的缺陷位置像素点的坐标信息,对所述空白图像的对应像素点的灰度值进行调整;S8、将调整后的所述空白图像与所述原始图像进行叠加融合,得到将产品缺陷突出显示的图像。
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