[发明专利]芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201910286655.2 | 申请日： | 2019-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN110082666B | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 曹琴玉;葛晓欢 | 申请（专利权）人： | 杭州微纳核芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人： | 刘广达 |
| 地址： | 311215 浙江省杭州市萧山区宁围*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质，从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息，根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。本方案中，由于该测试信息是永久保存于芯片内部，不易失效，方便了对芯片测试过程的追溯，从而节省了巨大的人力成本和时间成本，满足了客户要求。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 分析 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试分析方法，其特征在于，包括：从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息；根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。
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