[发明专利]逻辑投影成像测量非透明物体结构参数的方法及装置

摘要

本发明公开了逻辑投影成像测量非透明物体结构参数的方法及装置，所述方法包括：驱动样品转动360°，每转动一次预设角度，便采集一次投影信息，得到该角度下样品的原始投影图像；提取原始投影图像中的样品轮廓，并将样品轮廓内部的灰度值赋值为1，外部的灰度值赋值为0，得到逻辑化投影图像；对逻辑化投影图像采用滤波反投影重建算法得到样品横切的截面图像；对截面图像提取特征点得到样品的三维重心线、内切柱和螺旋线，得到样品的三维可视化。本发明对非透明物体进行非接触性检测，逻辑化赋值操作避免了样品表面散射光和背景光不均匀的影响，得到非透明物体的高度，实现样品三维可视化，降低成像的伪影，提高测量精度和成像质量。

主权项

1.逻辑投影成像测量非透明物体结构参数的方法，其特征在于：所述方法包括：驱动样品转动360°，在转动过程中每转动一次预设角度，采集一次所述样品在该角度下的投影信息，得到该角度下样品的原始投影图像；提取原始投影图像中的样品轮廓，并将所述样品轮廓内部的灰度值赋值为1，将样品轮廓外部的灰度值赋值为0，得到逻辑化投影图像；通过逻辑化投影图像求得样品的高度对应的像素点个数，得到样品的高度值；对逻辑化投影图像采用滤波反投影重建算法，得到样品横切的截面图像；对所述截面图像提取样品的特征点，得到样品的三维重心线、内切柱和螺旋线，得到样品的三维可视化。