[发明专利]一种线谱目标的互质阵互谱测向方法有效

专利信息
申请号: 201910295796.0 申请日: 2019-04-12
公开(公告)号: CN109975743B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 梅继丹;孙大军;石文佩;兰华林;魏秋雨;杨宛珊 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01S3/14 分类号: G01S3/14
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 刘冰
地址: 150001 黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种线谱目标的互质阵互谱测向方法,属于阵列信号处理领域。为了解决现有单频信号线谱目标互谱测向方法测向精度低,不适应大于半波的大尺寸阵列问题。本发明首先对组成互质阵的两个子阵接收信号分别进行相邻阵元的互谱计算,得到互谱结果。然后对互谱结果取模平均,得到互谱幅度谱平均值;然后进行线谱检测,测得信号的频率。利用线谱互谱的相位谱进行相位差估计,得到两个子阵各自相邻阵元的线谱信号的两组相位差。对两组相位差进行分别平均,得到两个相位差均值,利用互质特性解相位差模糊,得到无模糊的相位差测量结果;最后利用相位差结果得到目标方向。本发明适用于单频信号测向。
搜索关键词: 一种 线谱 目标 互质阵互谱 测向 方法
【主权项】:
1.一种线谱目标的互质阵互谱测向方法是基于MN互质阵实现的,MN互质阵是指有两个阵元间距分别为d1=Nλ/2和d2=Mλ/2等间距线阵构成的子阵,M、N互为质数,子阵1阵元数为M,子阵2阵元数为N;λ=c/fH为基阵可处理的上限频率fH对应的波长,c为水中声速;其特征在于,所述一种线谱目标的互质阵互谱测向方法,包括以下步骤:步骤1、对组成互质阵的两个子阵接收信号分别进行相邻阵元的互谱计算,得到互谱计算结果X1j(f)、X2j(f);步骤2、根据步骤1测得的互谱结果取模平均,得到互谱幅度谱平均值|X(f)|;步骤3、根据步骤2测得的幅度谱平均值进行线谱检测,测得信号的频率f0;步骤4、根据步骤1和步骤3测得的结果对线谱频率f0的互谱结果对应的相位谱进行相位差估计,得到两个子阵各自相邻阵元的线谱信号的两组相位差步骤5、根据步骤4测得的结果,对两个子阵各自测得的一组相位差分别进行平均,得到两个子阵各自的相位差均值步骤6、根据步骤5的结果,利用互质特性解相位差模糊,得到无模糊的相位差测量结果步骤7、根据步骤6的结果,利用相位差结果得到目标方向θ。
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