[发明专利]一种建立探针测试程式时确定过驱动量的方法有效

专利信息
申请号: 201910297159.7 申请日: 2019-04-15
公开(公告)号: CN110187255B 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 舒颖;代瑞娟;郑鹏飞 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种建立探针测试程式时确定过驱动量的方法,提供过驱动量;目测针痕;提供接触式测试的电压有效范围,利用过驱动量进行接触式测试;若接触式测试所输出的电压在电压有效范围之内,则表示通过测试;否则返回将过驱动量再增加一个步长;提供IO buffer电阻测试的电阻有效范围,利用过驱动量进行IO buffer电阻测试;若IO buffer电阻测试所计算的电阻值在电阻有效范围之内,则表示通过测试,将当前的过驱动量保存至测试程式中;否则返回将所述过驱动量再增加一个步长。本发明将一些接触电阻偏大的case筛查出来,能够更加合理有效的选择合适的OD,同时避免部分IO pin接触电阻偏大,影响测试良率。
搜索关键词: 一种 建立 探针 测试 程式 确定 驱动 方法
【主权项】:
1.一种建立探针测试程式时确定过驱动量的方法,其特征在于,该方法至少包括以下步骤:步骤一、提供过驱动量;步骤二、目测针痕;步骤三、提供接触式测试的电压有效范围,利用所述过驱动量进行接触式测试;步骤四、若接触式测试所输出的电压在所述电压有效范围之内,则表示通过测试,接着执行步骤五;否则返回执行步骤一将所述过驱动量再增加一个步长;步骤五、提供IO buffer电阻测试的电阻有效范围,利用所述过驱动量进行IO buffer电阻测试;步骤六、若IO buffer电阻测试所计算的电阻值在所述电阻有效范围之内,则表示通过测试,将当前的过驱动量保存至测试程式中;否则返回执行步骤一将所述过驱动量再增加一个步长。
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