[发明专利]一种多阵面辐射料位计及其测量方法

摘要

本发明涉及料位计领域，公开了一种多阵面辐射料位计及其测量方法，各探测阵面按照测量要求设置在测量空间内的不同位置处；各探测阵面均包括闪烁晶体和阵列式光电转换与倍增部件，每个阵列式光电转换与倍增部件由至少两个可独立完成光电转换与倍增的微型器件组成；闪烁晶体与阵列式光电转换与倍增部件耦合，每个阵列式光电转换与倍增部件具有至少一路电信号通道；每个阵列式光电转换与倍增部件至少通过一路电信号通道与运算处理器的输入端电路连接，运算处理器的输出端与输出部件的输入端连接。本发明充分发挥陈列式辐射探测原理的方向特性，显著提高料位计的方向特性、空间分辨能力，增大了单个料位计的测量范围，使得料位计测量更加准确、可靠。

主权项

1.一种多阵面辐射料位计，其特征在于，包括运算处理器（3）、输出部件（4）以及至少两个探测阵面，各所述探测阵面按照测量要求设置在测量空间内的不同位置处；各所述探测阵面均包括闪烁晶体（1）和阵列式光电转换与倍增部件（2），所述阵列式光电转换与倍增部件（2）由至少两个可独立完成光电转换与倍增的微型器件（5）组成；所述闪烁晶体（1）与所述阵列式光电转换与倍增部件（2）耦合，所述阵列式光电转换与倍增部件（2）具有至少一路电信号通道；每个所述阵列式光电转换与倍增部件至少通过一路所述电信号通道与所述运算处理器的输入端电路连接，所述运算处理器（3）的输出端与所述输出部件（4）的输入端连接。