[发明专利]一种离型膜保护膜的硅转移测试方法在审
| 申请号： | 201910297603.5 | 申请日： | 2019-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN109991161A | 公开（公告）日： | 2019-07-09 |
| 发明（设计）人： | 刘勇雄 | 申请（专利权）人： | 深圳市普利司德高分子材料有限公司 |
| 主分类号： | G01N19/04 | 分类号： | G01N19/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两端分别记为a1、a2端，胶带B的两端记为b1、b2；步骤S2：将胶带A的a1端贴附于离型膜的表面，并使用手指抚平，然后将胶带A与离型膜分离；步骤S3：使胶带A的a1端贴附于a2端的表面，同时使胶带B的b1端贴附于b2端的表面；步骤S4：分别施加作用力使胶带A、胶带B分离，并将施加的作用力分别记为F1、F2；步骤S5：设置范围并计算转移率P，其中转移率为P＝F1/F2。本发明通过设置测试组以及对照组，并且将两组的测试数据进行计算，从而快速计算硅转移率，方便快捷，且测试结果准确率高。 | ||
| 搜索关键词： | 胶带 离型膜 转移率 贴附 保护膜 截取 施加 测试 测试数据 快速计算 测试组 准确率 两段 两组 | ||
【主权项】：
1.一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两端分别记为a1、a2端，胶带B的两端记为b1、b2；步骤S2：将胶带A的a1端贴附于离型膜的表面，并使用手指抚平，然后将胶带A与离型膜分离；步骤S3：使胶带A的a1端贴附于a2端的表面，同时使胶带B的b1端贴附于b2端的表面；步骤S4：分别施加作用力使胶带A、胶带B分离，并将施加的作用力分别记为F1、F2；步骤S5：设置范围并计算转移率P，其中转移率为P＝F1/F2。
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